Archivio Istituzionale della RicercaLooking for Quality in TCAD-Based Papers / Ghione, G.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 66:8(2019), pp. 3252-3253. [10.1109/TED.2019.2924360]
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https://hdl.handle.net/11583/2878716