Archivio Istituzionale della RicercaIEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems Guest Editorial / Prashant D., Joshi; Violante, Massimo. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - STAMPA. - 29:(2013), pp. 259-260. [10.1007/s10836-013-5390-z]
IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems Guest Editorial
VIOLANTE, MASSIMO
2013
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https://hdl.handle.net/11583/2509474
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