Archivio Istituzionale della Ricerca[110517.EG ANNO 2011. DOI 10.1201/9781439826959 errato.]
Fault-Injection Techniques for Dependability Analysis: An Overview / Violante, Massimo - In: Radiation Effects in Semiconductors[s.l] : CRC Press, 2011. - ISBN 9781439826942. - pp. 385-404
Fault-Injection Techniques for Dependability Analysis: An Overview
VIOLANTE, MASSIMO
2011
Abstract
[110517.EG ANNO 2011. DOI 10.1201/9781439826959 errato.]
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https://hdl.handle.net/11583/2380479
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