Micro-Raman characterization of mc-Si:H films deposited by PECVD, mc-SiC:H deposited by ECR-CVD and 6H-SiC wafers / Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Cicero, Giancarlo; Ricciardi, Carlo - In: State of the Art and Future Development in Raman Spectroscopy and Related Techniques / G. MESSINA, S. SANTANGELO. - AMSTERDAM : IOS Press, 2002. - ISBN 9781586032623. - pp. 113-130
Micro-Raman characterization of mc-Si:H films deposited by PECVD, mc-SiC:H deposited by ECR-CVD and 6H-SiC wafers
FERRERO, SERGIO;GIORGIS, FABRIZIO;PIRRI, Candido;MANDRACCI, Pietro;CICERO, Giancarlo;RICCIARDI, Carlo
2002
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https://hdl.handle.net/11583/1751472
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