Information on gap states in a-Si(1-x)N(x):H from ESR, LESR and photothermal deflection spectroscopies / Giorgis, Fabrizio; F., Giuliani; Pirri, Candido; Tresso, Elena Maria - In: Properties of amorphous silicon and its alloys / T. Searle (ed.). - London : INSPEC, IEE, 1998. - ISBN 0852969228. - pp. 168-173

Information on gap states in a-Si(1-x)N(x):H from ESR, LESR and photothermal deflection spectroscopies

GIORGIS, FABRIZIO;PIRRI, Candido;TRESSO, Elena Maria
1998

1998
0852969228
Properties of amorphous silicon and its alloys
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1661315
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo