Structural information on a-SiN:H from infrared and Raman spectroscopy / Giorgis, Fabrizio; F., Giuliani; Pirri, Candido; Tresso, Elena Maria - In: Properties of amorphous silicon and its alloys / T. Searle (ed.). - London : INSPEC, IEE, 1998. - ISBN 0852969228. - pp. 85-94
Structural information on a-SiN:H from infrared and Raman spectroscopy
GIORGIS, FABRIZIO;PIRRI, Candido;TRESSO, Elena Maria
1998
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https://hdl.handle.net/11583/1661304
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