Structural information on a-SiC:H from Infrared and Raman spectroscopy / Giorgis, Fabrizio; F., Giuliani; Pirri, Candido; V., Rigato; Tresso, Elena Maria; S., Zandolin - In: Properties of amorphous silicon and its alloys / T. Searle (ed.). - London : INSPEC, IEE, 1998. - ISBN 0852969228. - pp. 74-90

Structural information on a-SiC:H from Infrared and Raman spectroscopy

GIORGIS, FABRIZIO;PIRRI, Candido;TRESSO, Elena Maria;
1998

1998
0852969228
Properties of amorphous silicon and its alloys
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