GHIBAUDO, CRISTIAN
GHIBAUDO, CRISTIAN
Dipartimento Scienza Applicata e Tecnologia
037742
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Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
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Residual stress investigation on Ti-48Al-2Cr-2Nb samples produced by Electron Beam Melting process / Galati, M.; Rizza, G.; Salmi, A.; Biamino, S.; Ghibaudo, C.; Fino, P.; Iuliano, L.. - ELETTRONICO. - 99:(2021), pp. 336-341. (Intervento presentato al convegno 14th CIRP Conference on Intelligent Computation in Manufacturing Engineering, CIRP ICME 2020 tenutosi a Ischia (NA), Gulf of Naples; Italy nel 15-17 July 2020) [10.1016/j.procir.2021.03.049]. | 1-gen-2021 | Galati M.Rizza G.Salmi A.Biamino S.Ghibaudo C.Fino P.Iuliano L. | 1-s2.0-S2212827121003255-main.pdf |