BEGHI, ALESSANDRO

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Citazione Data di pubblicazione Autori File
SMART-IC: Smart Monitoring and Production Optimization for Zero-waste Semiconductor Manufacturing / Alamin, KHALED SIDAHMED SIDAHMED; Chen, Yukai; Gaiardelli, Sebastiano; Spellini, Stefano; Calimera, Andrea; Beghi, Alessandro; Susto, Antonio; Fummi, Franco; Macii, Enrico; Vinco, Sara. - (2022), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno IEEE Latin-American Test Symposium tenutosi a Montevideo (Uruguay) nel 5th - 8th September 2022) [10.1109/LATS57337.2022.9937011]. 1-gen-2022 Khaled Sidahmed Sidahmed AlaminYukai ChenAndrea CalimeraAlessandro BeghiFranco FummiEnrico MaciiSara Vinco + LATS2022_CR_version (1).pdfSMART-IC_Smart_Monitoring_and_Production_Optimization_for_Zero-waste_Semiconductor_Manufacturing.pdf