Archivio Istituzionale della RicercaCARIA, STEFANO EMILIO
CARIA, STEFANO EMILIO
Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
091334
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| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| The Effect of Thermal Stresses on the Electrical Resistance of Crimped Connections / Galliana, F; Bellavia, L; Caria, Se; Perta, Ap; Roccato, Pe. - In: MAPAN. JOURNAL OF METROLOGY SOCIETY OF INDIA. - ISSN 0970-3950. - ELETTRONICO. - (2022). [10.1007/s12647-022-00574-1] | 1-gen-2022 | Caria, SERoccato, PE + | MAPAN-The Effect of Thermal Stresses on the Electrical Resistance of Crimped Connections.pdf |
| Towards a traceable divider for composite voltage waveforms below 1 kV / Galliana, F.; Caria, S. E.; Roccato, P. E.. - In: ELECTRICAL ENGINEERING. - ISSN 0948-7921. - ELETTRONICO. - (2021), pp. 1-10. [10.1007/s00202-021-01368-5] | 1-gen-2021 | Caria, S. E.Roccato, P. E. + | 2021_Article_TowardsATraceableDividerForCom.pdf |