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Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
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Metrological characterization of MEMS accelerometers by LDV / D'Emilia, G.; Gaspari, A.; Mazzoleni, F.; Natale, E.; Prato, A.; Schiavi, A.. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONFERENCE SERIES. - ISSN 1742-6588. - ELETTRONICO. - 1589:(2020), p. 012011. (Intervento presentato al convegno 27th A.I.VE.LA. Annual National Meeting tenutosi a Istituto Motori - CNR, ita nel 2019) [10.1088/1742-6596/1589/1/012011]. | 1-gen-2020 | Natale E.Prato A.Schiavi A. + | D’Emilia_2020_J._Phys. _Conf._Ser._1589_012011.pdf |
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