GUERRERO BALAGUERA, JUAN DAVID

GUERRERO BALAGUERA, JUAN DAVID  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

J. Guerrero  

068072  

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Citazione Data di pubblicazione Autori File
Analyzing the Reliability of TCUs Through Micro-architecture and Structural Evaluations for Two Real Number Formats / LIMAS SIERRA, ROBERT ALEXANDER; Guerrero-Balaguera, Juan-David; Rodriguez Condia, Josie E.; SONZA REORDA, Matteo - In: VLSI-SoC 2023: Silicon Innovations for Trustworthy Artificial Intelligence[s.l] : Springer, In corso di stampa. In corso di stampa Robert Limas SierraJuan-David Guerrero-BalagueraJosie E. Rodriguez CondiaMatteo Sonza Reorda VLSI_Soc2023_Book_Chapter.pdf