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A value-driven approach to printed circuit board inspection: Strategic use of inspection technologies to reduce waste / Puttero, S.; Verna, E.; Genta, G.; Galetto, M.. - ELETTRONICO. - 57:(2025), pp. 402-409. (Intervento presentato al convegno XVII Convegno dell'Associazione Italiana delle Tecnologie Manifatturiere (XVII AITeM) tenutosi a Bari nel 9-12 Settembre 2025) [10.21741/9781644903735-47]. 1-gen-2025 Puttero, S.Verna, E.Genta, G.Galetto, M. -
Workload and stress evaluation in advanced manufacturing systems / Blandino, Graziana; Montagna, Francesca; Cantamessa, Marco. - 35:(2023), pp. 53-61. (Intervento presentato al convegno XVI CONVEGNO AITEM) [10.21741/9781644902714-7]. 1-gen-2023 Graziana BlandinoFrancesca MontagnaMarco Cantamessa 7.pdf
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