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Investigation and Modeling of the Electrical Bias Stress in Electrolyte‐Gated Organic Transistors / Segantini, Matteo; Ballesio, Alberto; Palmara, Gianluca; Zaccagnini, Pietro; Frascella, Francesca; Garzone, Giovanna; Marasso, Simone Luigi; Cocuzza, Matteo; Parmeggiani, Matteo. - In: ADVANCED ELECTRONIC MATERIALS. - ISSN 2199-160X. - ELETTRONICO. - (2022), p. 2101332. [10.1002/aelm.202101332]

Investigation and Modeling of the Electrical Bias Stress in Electrolyte‐Gated Organic Transistors

Segantini, Matteo;Ballesio, Alberto;Palmara, Gianluca;Zaccagnini, Pietro;Frascella, Francesca;Garzone, Giovanna;Marasso, Simone Luigi;Cocuzza, Matteo;Parmeggiani, Matteo
2022
2022
ADVANCED ELECTRONIC MATERIALS
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2964112