Machine Learning Clustering Techniques for Selective Mitigation of Critical Design Features / Lange, Thomas; Balakrishnan, Aneesh; Glorieux, Maximilien; Alexandrescu, Dan; Sterpone, Luca. - (2020), pp. 1-7. (Intervento presentato al convegno 26th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS) tenutosi a Naples (Italy) nel 13-15 July 2020) [10.1109/IOLTS50870.2020.9159751].

Machine Learning Clustering Techniques for Selective Mitigation of Critical Design Features

Lange, Thomas;Sterpone, Luca
2020

2020
978-1-7281-8187-5
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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2846537