Machine Learning To Tackle the Challenges of Transient and Soft Errors in Complex Circuits / Lange, Thomas; Balakrishnan, Aneesh; Glorieux, Maximilien; Alexandrescu, Dan; Sterpone, Luca. - ELETTRONICO. - (2019), pp. 7-14. (Intervento presentato al convegno 25th International Symposium on On-Line Testing And Robust System Design (IOLTS)) [10.1109/IOLTS.2019.8854423].

Machine Learning To Tackle the Challenges of Transient and Soft Errors in Complex Circuits

Thomas Lange;Luca Sterpone
2019

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