Functional Failure Rate Due to Single-Event Transients in Clock Distribution Networks / Lange, Thomas; Glorieux, Maximilien; Alexandrescu, Dan; Sterpone, Luca. - ELETTRONICO. - (2019), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 14th International Conference on Design & Technology of Integrated Systems In Nanoscale Era (DTIS) 2019) [10.1109/DTIS.2019.8735052].

Functional Failure Rate Due to Single-Event Transients in Clock Distribution Networks

Lange, Thomas;Sterpone, Luca
2019

2019
978-1-7281-3424-6
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