MOSFET ZTC condition analysis for a self-biased current reference design / Toledo, P.; Klimach, H.; Cordova, D.; Bampi, S.; Fabris, E.. - In: JICS. JOURNAL OF INTEGRATED CIRCUITS AND SYSTEMS. - ISSN 1807-1953. - 10:2(2015), pp. 103-112.

MOSFET ZTC condition analysis for a self-biased current reference design

Toledo P.;
2015

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2743197
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