L'abstract è presente nell'allegato / the abstract is in the attachment

An application of quantum metrology: enhanced correlated interferometry / Tekuru, SIVA PRADYUMNA. - (2019 Jun 14), pp. 1-149.

An application of quantum metrology: enhanced correlated interferometry

TEKURU, SIVA PRADYUMNA
2019

Abstract

L'abstract è presente nell'allegato / the abstract is in the attachment
14-giu-2019
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
conv_phd_thesis_final.pdf

accesso aperto

Descrizione: Tesi di dottorato
Tipologia: Tesi di dottorato
Licenza: Creative commons
Dimensione 8 MB
Formato Adobe PDF
8 MB Adobe PDF Visualizza/Apri
conv_abstract.pdf

accesso aperto

Descrizione: Abstract tesi dottorato
Tipologia: Abstract
Licenza: Creative commons
Dimensione 68.95 kB
Formato Adobe PDF
68.95 kB Adobe PDF Visualizza/Apri
allegato.zip

accesso aperto

Descrizione: Documenti allegati
Tipologia: Altro materiale allegato
Licenza: Creative commons
Dimensione 9.74 MB
Formato Zip File
9.74 MB Zip File Visualizza/Apri
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2736764
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo