AFM metrology of shape controlled TiO2 nanoparticles / Maurino, Valter; Pellegrino, Francesco; Bartolo Picotto, Gian; Ribotta, Luigi. - (2018). (Intervento presentato al convegno NanoInnovation 2018 Conference&Exhibition).

AFM metrology of shape controlled TiO2 nanoparticles

Luigi Ribotta
2018

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2731301
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