Microprocessor Testing: Functional Meets Structural Test / Touati, A.; Girard, P.; Virazel, A.; Bosio, Alberto; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo. - In: JOURNAL OF CIRCUITS, SYSTEMS, AND COMPUTERS. - ISSN 0218-1266. - 26:8(2017), pp. 1-18. [10.1142/S0218126617400072]

Microprocessor Testing: Functional Meets Structural Test

BOSIO, ALBERTO;BERNARDI, PAOLO;SONZA REORDA, MATTEO
2017

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2670041
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