An effective approach for functional test programs compaction / Touati, A.; Bosio, Alberto; Girard, P.; Virazel, A.; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (2016), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 19th IEEE International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2016 tenutosi a svk nel 2016) [10.1109/DDECS.2016.7482466].
An effective approach for functional test programs compaction
BOSIO, ALBERTO;BERNARDI, PAOLO;SONZA REORDA, Matteo
2016
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https://hdl.handle.net/11583/2650513
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