PORTO @ Archivio Istituzionale della Ricerca

RicercaInizia una nuova ricerca

NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

cerca in
Risultati 1 - 10 di 248 (tempo di esecuzione: 0.033 secondi).
Citazione Data di pubblicazione Autori File
"Plug & Test" at System Level via Testable TLM Primitives / Alemzadeh, H.; DI CARLO, Stefano; Refan, F.; Navabi, Z.; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2008), pp. 1-10. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Santa Clara (CA), USA nel 28-30 Oct., 2008) [10.1109/TEST.2008.4700610]. 1-gen-2008 DI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto + 2008-ITC-TLM-AuthorVersion.pdf
'BOND': An Interposition Agents Based Fault Injector for Windows NT / Baldini, A.; Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto. - (2000), pp. 387-395. (Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems nel 25-27 October 2000). 1-gen-2000 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + -
8T SRAM Defective Cell with Open Defects / Rodríguez Montañés, R.; Arumí, D.; Manich, S.; Figueras, J.; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Scionti, A.. - STAMPA. - (2010), pp. 492-497. (Intervento presentato al convegno IEEE 25th Conference on Design of Circuits and Integrated Systems (DCIS) tenutosi a Lanzarote, ES nel 17-19 Nov. 2010). 1-gen-2010 DI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto + 2010-DCIS-8TSRAM.pdf
A 22n March Test for Realistic Static Linked Faults in SRAMs / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; DI CARLO, Stefano; DI NATALE, Giorgio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2006), pp. 49-54. (Intervento presentato al convegno IEEE 11th European Test Symposium (ETS) tenutosi a SouthAmpton, UK nel 21-24 May 2006) [10.1109/ETS.2006.2]. 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTODI CARLO, STEFANODI NATALE, GiorgioPRINETTO, Paolo Ernesto 2006-ETS-March.pdf
A Black-Box-Oriented Test Methodology / Benso, Alfredo; Bosio, Alberto; Prinetto, Paolo Ernesto; Savino, Alessandro. - STAMPA. - (2006), pp. 11-15. (Intervento presentato al convegno IEEE East-West Design & Test Workshop (EWDTW06) tenutosi a Sochi (Russia) nel Sept. 15-19, 2006). 1-gen-2006 BENSO, AlfredoBOSIO, ALBERTOPRINETTO, Paolo ErnestoSAVINO, ALESSANDRO -
A C/C++ Source-to-Source Compiler for Dependable Applications / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto; Tagliaferri, L.. - (2000), pp. 71-78. (Intervento presentato al convegno IEEE International Conference on Dependable Systems and Networks nel 25-28 June 2000). 1-gen-2000 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + -
A cloud-based Cyber-Physical System for environmental monitoring / Sanislav, T.; Mois, G.; Folea, S.; Miclea, L.; Gambardella, Giulio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (2014), pp. 6-9. (Intervento presentato al convegno 3rd Mediterranean Conference on Embedded Computing (MECO) tenutosi a Budva, ME nel 15-19 June 2014) [10.1109/MECO.2014.6862654]. 1-gen-2014 GAMBARDELLA, GIULIOPRINETTO, Paolo Ernesto + 2014-MECO-CPS-AuthorVersion.pdf
A COTS Wrapping Toolkit for Fault Tolerant Applications under Windows NT / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto. - (2000), pp. 9-16. (Intervento presentato al convegno IEEE International On-Line Testing Workshop nel 3-5 July 2000). 1-gen-2000 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto -
A cross-layer approach for new reliability-performance trade-offs in MLC NAND flash memories / Zambelli, C.; Indaco, Marco; Fabiano, Michele; DI CARLO, Stefano; Prinetto, Paolo Ernesto; Olivo, P.; Bertozzi, D.. - ELETTRONICO. - (2012), pp. 881-886. (Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, Conference and Exhibition (DATE) tenutosi a Dresden, DE nel 12-16 March 2012) [10.1109/DATE.2012.6176622]. 1-gen-2012 INDACO, MARCOFABIANO, MICHELEDI CARLO, STEFANOPRINETTO, Paolo Ernesto + 2012-DATE-Flash-AuthorVersion.pdf; 2012-DATE-Flash.pdf
A diagnostic test pattern generation algorithm / Camurati, Paolo Enrico; Medina, D.; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - (1990), pp. 52-58. (Intervento presentato al convegno ITC 1990: IEEE International Test Conference 1990 tenutosi a Washington DC (USA) nel 10-14 Sept. 1990) [10.1109/TEST.1990.114000]. 1-gen-1990 CAMURATI, Paolo EnricoPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo + -
Risultati 1 - 10 di 248 (tempo di esecuzione: 0.033 secondi).
↑ Back to top
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile

Aggiungere filtri:  
Aggiungi
Opzioni
Scopri
Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 248
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 245
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 3
Autore
  • DI CARLO, STEFANO 82
  • SONZA REORDA, MATTEO 66
  • CORNO, Fulvio 53
  • BENSO, ALFREDO 45
  • REBAUDENGO, MAURIZIO 33
  • CAMURATI, Paolo Enrico 30
  • DI NATALE, GIORGIO 25
  • MEZZALAMA, MARCO 24
  • CHIUSANO, SILVIA ANNA 23
  • INDACO, MARCO 18
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa 2
  • 2020 - 2023 14
  • 2010 - 2019 63
  • 2000 - 2009 65
  • 1990 - 1999 75
  • 1980 - 1989 25
  • 1978 - 1979 4
Editore
  • IEEE Computer Society 84
  • IEEE 43
  • Institute of Electrical and Elect... 11
  • Springer 8
  • CEUR Workshop Proceedings 4
  • IEEE Computer Society Press 4
  • IEEE / Institute of Electrical an... 3
  • North-Holland Publishing Co. 3
  • SPD FL Stepanov V.V.Ukraine, 6116... 3
  • Acta Press 2
Rivista
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 8
  • 2016 IEEE 34th VLSI Test Symposiu... 1
Serie
  • CEUR WORKSHOP PROCEEDINGS 4
Keyword
  • DIGITAL SYSTEM DESIGN TEST AND VE... 89
  • Automatic testing 15
  • System testing 15
  • Random access memory 12
  • Circuit faults 11
  • Reliability 9
  • Application software 8
  • Fault detection 8
  • Hardware 8
  • Circuit testing 7
Lingua
  • eng 205
  • ger 2
Accesso al fulltext
  • no fulltext 143
  • open 92
  • partially open 9
  • reserved 4