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Citazione Data di pubblicazione Autori File
A BIST-based Solution for the Diagnosis of Embedded Memories Adopting Image Processing Techniques / D., Appello; A., Fudoli; V., Tancorre; Corno, Fulvio; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (2002), pp. 112-116. (Intervento presentato al convegno IOLTW2002: IEEE International On-line Testing Workshop tenutosi a Isola di Bendor, Francia nel 8-10 luglio 2002). 1-gen-2002 CORNO, FulvioREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
A cellular genetic algorithm for the Floorplan area optimization problem on a SIMD architecture / Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - 1067:(1996), pp. 987-988. (Intervento presentato al convegno High-Performance Computing and Networking International Conference and Exhibition HPCN EUROPE 1996 tenutosi a Brussels (BEL) nel April 15–19, 1996) [10.1007/3-540-61142-8_675]. 1-gen-1996 REBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
A Compaction Method for STLs for GPU in-field test / Guerrero-Balaguera, Juan-David; Rodriguez Condia, J. E.; Sonza Reorda, M.. - ELETTRONICO. - (2022), pp. 454-459. (Intervento presentato al convegno 2022 Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition, DATE 2022 tenutosi a Antwerp (BE) nel 14-23 March 2022) [10.23919/DATE54114.2022.9774597]. 1-gen-2022 Guerrero-Balaguera Juan-DavidRodriguez Condia J. E.Sonza Reorda M. A_Compaction_Method_for_STLs_for_GPU_in-field_test.pdf
A comparative overview of ATPG flows targeting traditional and cell-aware fault models / Mirabella, Nunzio; Floridia, Andrea; Cantoro, Riccardo; Grosso, Michelangelo; Sonza Reorda, Matteo. - ELETTRONICO. - (2022), pp. 1-4. (Intervento presentato al convegno 29th IEEE International Conference on Electronics Circuits and Systems (ICECS) tenutosi a Glasgow nel 24th - 26th October 2022) [10.1109/ICECS202256217.2022.9971003]. 1-gen-2022 Mirabella, NunzioFloridia, AndreaCantoro, RiccardoGrosso, MichelangeloSonza Reorda, Matteo ICECS_2022_1.2.pdf; Conference_paper_1.2_submitted.docx; A_comparative_overview_of_ATPG_flows_targeting_traditional_and_cell-aware_fault_models.pdf
A Data Parallel Algorithm for Boolean Function Manipulation / Gai, Silvano; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (1995), pp. 28-34. (Intervento presentato al convegno Frontiers of Massively Parallel Computation, 1995. Proceedings. Frontiers '95., Fifth Symposium on the tenutosi a McLean, VA, USA nel 6-9 Feb 1995) [10.1109/FMPC.1995.380467]. 1-gen-1995 GAI, SilvanoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
A data parallel approach to Boolean function manipulation using BDDs / Cabodi, Gianpiero; Gai, Silvano; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (1994), pp. 163-175. (Intervento presentato al convegno Massively Parallel Computing Systems, 1994., Proceedings of the First International Conference on tenutosi a Ischia (I) nel 2-6 May 1994) [10.1109/MPCS.1994.367081]. 1-gen-1994 CABODI, GianpieroGAI, SilvanoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
A Deterministic Methodology for Identifying Functionally Untestable Path-Delay Faults in Microprocessor Cores / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2009), pp. 103-108. (Intervento presentato al convegno 9th International Workshop on Microprocessor Test and Verification (MTV'08) tenutosi a Austin, TX (U.S.A.) nel 8-10 Dic., 2008) [10.1109/MTV.2008.9]. 1-gen-2009 BERNARDI, PAOLOGROSSO, MICHELANGELOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, Matteo -
A diagnostic test pattern generation algorithm / Camurati, Paolo Enrico; Medina, D.; Prinetto, Paolo Ernesto; SONZA REORDA, Matteo. - (1990), pp. 52-58. (Intervento presentato al convegno ITC 1990: IEEE International Test Conference 1990 tenutosi a Washington DC (USA) nel 10-14 Sept. 1990) [10.1109/TEST.1990.114000]. 1-gen-1990 CAMURATI, Paolo EnricoPRINETTO, Paolo ErnestoSONZA REORDA, Matteo + -
A dynamic greedy test scheduler for optimizing probe motion in in-circuit testers / Bonaria, L.; Raganato, M.; Sonza Reorda, M.; Squillero, G.. - STAMPA. - 2019-:(2019), pp. 1-2. (Intervento presentato al convegno 2019 IEEE European Test Symposium, ETS 2019 tenutosi a Baden Baden, Germany nel 2019) [10.1109/ETS.2019.8791519]. 1-gen-2019 Sonza Reorda M.Squillero G. + 08791519 pre print.pdf; A_Dynamic_Greedy_Test_Scheduler_for_Optimizing_Probe_Motion_in_In-Circuit_Testers.pdf
A dynamic hardware redundancy mechanism for the in-field fault detection in cores of GPGPUs / Rodriguez Condia, Josie E.; Narducci, Pierpaolo; Reorda, M. Sonza; Sterpone, L.. - ELETTRONICO. - (2020), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2020 23rd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS) tenutosi a Novi Sad, Serbia, Serbia nel 22-24 April 2020) [10.1109/DDECS50862.2020.9095665]. 1-gen-2020 Rodriguez Condia, Josie E.Reorda, M. SonzaSterpone, L. + 09095665.pdf
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 468
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Autore
  • REBAUDENGO, MAURIZIO 116
  • CORNO, Fulvio 97
  • VIOLANTE, MASSIMO 97
  • BERNARDI, PAOLO 87
  • SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO 71
  • SQUILLERO, GIOVANNI 70
  • PRINETTO, Paolo Ernesto 66
  • CANTORO, RICCARDO 45
  • GROSSO, MICHELANGELO 43
  • STERPONE, LUCA 38
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa 2
  • 2020 - 2023 68
  • 2010 - 2019 128
  • 2000 - 2009 167
  • 1990 - 1999 99
  • 1988 - 1989 4
Editore
  • IEEE 128
  • IEEE Computer Society 44
  • Springer 25
  • Institute of Electrical and Elect... 19
  • IEEE - INST ELECTRICAL ELECTRONIC... 17
  • ACM Press 7
  • IEEE-INST ELECTRICAL ELECTRONICS ... 6
  • IEEE / Institute of Electrical an... 4
  • ACM 3
  • ieee 3
Rivista
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 22
Serie
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 2
  • ... IEEE ... INTERNATIONAL SYMPOS... 1
  • IFIP ADVANCES IN INFORMATION AND ... 1
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE 1
  • PROCEEDINGS IEEE COMPUTER SOCIETY... 1
Keyword
  • Reliability 12
  • SBST 12
  • Safety 10
  • Electrical and Electronic Enginee... 9
  • Graphics Processing Units (GPUs) 9
  • Hardware and Architecture 8
  • Reliability and Quality 7
  • Risk 7
  • software-based self-test 7
  • Fault Injection 6
Lingua
  • eng 284
  • ger 1
  • ita 1
Accesso al fulltext
  • no fulltext 359
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