Archivio Istituzionale della RicercaGrowth, morphological and structural characterization of silicon carbide epilayers for power electronic devices applications / Pirri, Candido; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Celasco, Edvige; Guastella, SALVATORE ANTONIO; Scaltrito, Luciano; R., Yakimova; M., Syväjärvi; R. R., Ciechonski; S., De Angelis; D., Crippa. - In: CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY. - ISSN 0232-1300. - 40:(2005), pp. 964-966. [10.1002/crat.200410468]
Growth, morphological and structural characterization of silicon carbide epilayers for power electronic devices applications
PIRRI, Candido;PORRO, SAMUELE;FERRERO, SERGIO;CELASCO, EDVIGE;GUASTELLA, SALVATORE ANTONIO;SCALTRITO, LUCIANO;
2005
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https://hdl.handle.net/11583/2588457
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