Modeling of Physical Defects in PN-Junction Based Graphene Devices / Miryala, Sandeep; M., Oleiro; L., Bolzani Pohls; Calimera, Andrea; Macii, Enrico; Poncino, Massimo. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - 30:3(2014), pp. 357-370. [10.1007/s10836-014-5458-4]

Modeling of Physical Defects in PN-Junction Based Graphene Devices

MIRYALA, SANDEEP;CALIMERA, ANDREA;MACII, Enrico;PONCINO, MASSIMO
2014

File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2587355
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo