Archivio Istituzionale della RicercaAn integrated high speed microwave test set for linear and non-linear device characterization / Ferrero, ANDREA PIERENRICO; Pisani, Umberto; F., Sanpietro. - STAMPA. - (1993), pp. 1-3. (Intervento presentato al convegno APMC, Asia Pacific Microwave Conference tenutosi a Taiwan nel October 1993).
An integrated high speed microwave test set for linear and non-linear device characterization
FERRERO, ANDREA PIERENRICO;PISANI, Umberto;
1993
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https://hdl.handle.net/11583/2497900
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