Green’s function based simulation of trap-induced device variability / Tisseur, Riccardo; Bonani, Fabrizio; DONATI GUERRIERI, Simona; Ghione, Giovanni. - STAMPA. - Proceedings of GE2012:(2012), pp. 28-29. (Intervento presentato al convegno XLIV riunione annuale del Gruppo Elettronica tenutosi a Marina di Carrara nel 20-22 Giugno 2012).

Green’s function based simulation of trap-induced device variability

TISSEUR, RICCARDO;BONANI, Fabrizio;DONATI GUERRIERI, Simona;GHIONE, GIOVANNI
2012

2012
9788867410125
File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
6_Tisseur.pdf

accesso aperto

Tipologia: Altro materiale allegato
Licenza: PUBBLICO - Tutti i diritti riservati
Dimensione 1.41 MB
Formato Adobe PDF
1.41 MB Adobe PDF Visualizza/Apri
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2497863
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo