Modeling and simulation of noise in transistors under large-signal condition / Bonani, Fabrizio; DONATI GUERRIERI, Simona; Ghione, Giovanni; Tisseur, Riccardo. - ELETTRONICO. - (2011), pp. 10-15. (Intervento presentato al convegno 21st International Conference on Noise and Fluctuations tenutosi a Toronto, Canada nel 12-16 June).

Modeling and simulation of noise in transistors under large-signal condition

BONANI, Fabrizio;DONATI GUERRIERI, Simona;GHIONE, GIOVANNI;TISSEUR, RICCARDO
2011

2011
9781457701917
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