Analysis of NBTI-induced SNM degradation in power-gated SRAM cells / Calimera, Andrea; Macii, Enrico; Poncino, Massimo. - (2010), pp. 785-788. (Intervento presentato al convegno IEEE ISCAS-10: IEEE International Symposium on Circuits and Systems nel May) [10.1109/ISCAS.2010.5537452].
Analysis of NBTI-induced SNM degradation in power-gated SRAM cells
CALIMERA, ANDREA;MACII, Enrico;PONCINO, MASSIMO
2010
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https://hdl.handle.net/11583/2380173
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