Study of carbon nanotube thick layers for electronic applications / Musso, Simone; Bianco, Stefano; Giorcelli, Mauro; Gonnelli, Renato; Tagliaferro, Alberto. - (2008). (Intervento presentato al convegno IEEE International Nanoelectronics Conference (INEC) 2008 tenutosi a Shanghai, China nel 24-28 March 2008).

Study of carbon nanotube thick layers for electronic applications

MUSSO, SIMONE;BIANCO, STEFANO;GIORCELLI, MAURO;GONNELLI, Renato;TAGLIAFERRO, Alberto
2008

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/2287135
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