Si lattice parameter measurement by centimeter X-ray interferometry / Ferroglio, Luca; Mana, G; Massa, E.. - In: OPTICS EXPRESS. - ISSN 1094-4087. - 16:(2008), pp. 16877-16888.

Si lattice parameter measurement by centimeter X-ray interferometry

FERROGLIO, LUCA;
2008

2008
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