Archivio Istituzionale della RicercaAn Automatic Functional Stress Pattern Generation Technique Suitable for SoC Reliability Characterization / Appello, D; Bernardi, Paolo; Bruno, M; Cagliesi, R; Giancarlini, M; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2008). (Intervento presentato al convegno 2nd IEEE International Workshop on Automated Test Equipment: Vision ATE 2020).
An Automatic Functional Stress Pattern Generation Technique Suitable for SoC Reliability Characterization
BERNARDI, PAOLO;GROSSO, MICHELANGELO;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, Matteo
2008
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https://hdl.handle.net/11583/1877307
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