Archivio Istituzionale della RicercaA New Functional Fault Model for System-Level Descriptions / P., Camurati; Corno, Fulvio; Meo, Michela; Prinetto, Paolo Ernesto. - (1994). (Intervento presentato al convegno 2th IEEE VLSI Test Symposium tenutosi a NJ (USA) nel April 1994) [10.1109/VTEST.1994.292310].
A New Functional Fault Model for System-Level Descriptions
CORNO, Fulvio;MEO, Michela;PRINETTO, Paolo Ernesto
1994
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https://hdl.handle.net/11583/1662214
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