High-Level Observability for Effective High-Level ATPG / Corno, Fulvio; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - (2000), pp. 411-416. (Intervento presentato al convegno VLSI Test Symposium tenutosi a Montreal, Canada nel May 2000).

High-Level Observability for Effective High-Level ATPG

CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2000

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1661416
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