Correlation between optoelectronic properties and structure of a-SiC:H films grown from C2H2 source / F., Giorgis; Pirri, Candido; P., Rava; Tresso, Elena Maria. - In: PHILOSOPHICAL MAGAZINE. B. PHYSICS OF CONDENSED MATTER. STATISTICAL MECHANICS, ELECTRONIC, OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES. - ISSN 1364-2812. - 75:(1997), pp. 471-480.

Correlation between optoelectronic properties and structure of a-SiC:H films grown from C2H2 source

PIRRI, Candido;TRESSO, Elena Maria
1997

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1661237
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