Raman spectroscopy on amorphous silicon based alloys / Giorgis, Fabrizio. - In: DIFFUSION AND DEFECT DATA, SOLID STATE DATA. PART A, DEFECT AND DIFFUSION FORUM. - ISSN 1012-0386. - 124-125:(1996), p. 33.
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https://hdl.handle.net/11583/1661149
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