Archivio Istituzionale della RicercaOn the Automatic Generation of Test Programs for Path-Delay Faults in Microprocessor Cores / Bernardi, Paolo; Grosso, Michelangelo; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2007), pp. 179-184. (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium tenutosi a Freiburg, Germany nel 20-24 May 2007) [10.1109/ETS.2007.28].
On the Automatic Generation of Test Programs for Path-Delay Faults in Microprocessor Cores
BERNARDI, PAOLO;GROSSO, MICHELANGELO;SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO;SONZA REORDA, Matteo
2007
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https://hdl.handle.net/11583/1646056
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