Archivio Istituzionale della RicercaMeasurements of Near Infrared Frequency Mixing by Metal-Semiconductor Point-Contact Diodes / Bava, Elio; N., Beverini; G., Carelli; A., DE MICHELE; G., Galzerano; E., Maccioni; A., Moretti; M., Prevedelli; F., Sorrentino; C., Svelto. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - Vol. 54, No. 4,:(2005), pp. 1407-1411.
Measurements of Near Infrared Frequency Mixing by Metal-Semiconductor Point-Contact Diodes
BAVA, ELIO;
2005
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https://hdl.handle.net/11583/1541838
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