Fully automatic test program generation for microprocessor cores / Corno, Fulvio; G., Cumani; SONZA REORDA, Matteo; Squillero, Giovanni. - 1:(2003), pp. 1006-1011. (Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition).

Fully automatic test program generation for microprocessor cores

CORNO, Fulvio;SONZA REORDA, Matteo;SQUILLERO, Giovanni
2003

2003
9780769518701
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