Impact of Substrate Resistance on Drain Current Noise in MOSFETs / Goo, J. S.; DONATI GUERRIERI, Simona; Choi, C. H.; Yu, Z; Lee, H; Dutton, R. W.. - (2001), p. 182. (Intervento presentato al convegno INT. CONF. ON SIMULATION OF SEMICONDUCTOR PROCESSES AND DEVICES (SISPAD)).
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
https://hdl.handle.net/11583/1411080
Attenzione
Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo