Impact of Substrate Resistance on Drain Current Noise in MOSFETs / Goo, J. S.; DONATI GUERRIERI, Simona; Choi, C. H.; Yu, Z; Lee, H; Dutton, R. W.. - (2001), p. 182. (Intervento presentato al convegno INT. CONF. ON SIMULATION OF SEMICONDUCTOR PROCESSES AND DEVICES (SISPAD)).

Impact of Substrate Resistance on Drain Current Noise in MOSFETs

DONATI GUERRIERI, Simona;
2001

2001
9783211837085
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1411080
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo