Testing microwave devices under different source impedances: a novel technique for on-line measurement of source and device reflection coefficients / Ferrero, ANDREA PIERENRICO; Madonna, G; Pirola, Marco; Pisani, U.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTATION AND MEASUREMENT. - ISSN 0018-9456. - im-49:(2000), pp. 285-289. [10.1109/19.843065]

Testing microwave devices under different source impedances: a novel technique for on-line measurement of source and device reflection coefficients

FERRERO, ANDREA PIERENRICO;PIROLA, Marco;
2000

File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
IM_APR2000.pdf

accesso aperto

Tipologia: 2. Post-print / Author's Accepted Manuscript
Licenza: PUBBLICO - Tutti i diritti riservati
Dimensione 314.42 kB
Formato Adobe PDF
314.42 kB Adobe PDF Visualizza/Apri
Pubblicazioni consigliate

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1404418
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo