Archivio Istituzionale della RicercaCharacterization of silicon–YBCO buffered multilayers grown by sputtering / Chiodoni, Angelica; Ballarini, V.; Botta, Danilo; Camerlingo, C.; Fabbri, F.; Ferrari, S.; Gerbaldo, Roberto; Ghigo, Gianluca; Gozzelino, Laura; Laviano, Francesco; Pirri, Candido; Tallarida, G.; Tresso, Elena Maria; Minetti, Bruno; Mezzetti, Enrica. - In: APPLIED SURFACE SCIENCE. - ISSN 0169-4332. - 238:1-4(2004), pp. 485-489. [10.1016/j.apsusc.2004.05.248]
Characterization of silicon–YBCO buffered multilayers grown by sputtering
CHIODONI, ANGELICA;BOTTA, Danilo;GERBALDO, Roberto;GHIGO, GIANLUCA;GOZZELINO, LAURA;LAVIANO, FRANCESCO;PIRRI, Candido;TRESSO, Elena Maria;MINETTI, Bruno;MEZZETTI, Enrica
2004
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https://hdl.handle.net/11583/1402648
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