Structural and morphological properties of evaporated SiOx films / E., Monticone; A. M., Rossi; M., Rajteri; Gonnelli, Renato; V., Lacquaniti; G., Amato. - In: PHILOSOPHICAL MAGAZINE. B. PHYSICS OF CONDENSED MATTER. STATISTICAL MECHANICS, ELECTRONIC, OPTICAL AND MAGNETIC PROPERTIES. - ISSN 1364-2812. - 80:(2000), pp. 523-529.

Structural and morphological properties of evaporated SiOx films

GONNELLI, Renato;
2000

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11583/1400897
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