Archivio Istituzionale della RicercaANGIONE, FRANCESCO
ANGIONE, FRANCESCO
Dipartimento di Automatica e Informatica
F. Angione
048119
Test, Reliability and Functional Safety trends for Automotive System-on-Chip
2022 Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; de Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Huch, M.; Kilian, T; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.
A novel Pattern Selection Algorithm to reduce the Test Cost of large Automotive Systems-on-Chip
2022 Iaria, Giusy; Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo; Davide, Appello; Giuseppe, Garozzo; Vincenzo, Tancorre
An Optimized Burn-In Stress Flow targeting Interconnections logic to Embedded Memories in Automotive Systems-on-Chip
2022 Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; SONZA REORDA, Matteo; Appello, Davide; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto
Online scheduling of concurrent Memory BISTs execution at Real-Time Operating-System level
2022 Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Tempesta, Claudia; SONZA REORDA, Matteo; Appello, Davide; Ugioli, Roberto; Tancorre, Vincenzo
Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip
2022 Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; De Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Guerrero, J.; Huch, M.; Iaria, G.; Kilian, T.; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.
An innovative Strategy to Quickly Grade Functional Test Programs
2022 Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Calabrese, Andrea; Cardone, Lorenzo; Niccoletti, Alessandro; Piumatti, Davide; Quer, Stefano; Appello, Davide; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto
On the integration and hardening of Software Test Libraries in Real-Time Operating Systems
2023 Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Cantoro, Riccardo; Di Gruttola Giardino, Nicola; Piumatti, Davide; Reorda, Matteo Sonza; Appello, Davide; Tancorre, Vincenzo
A Toolchain to Quantify Burn-In Stress Effectiveness on large Automotive System-on-Chips
2023 Angione, Francesco; Appello, Davide; Bernardi, Paolo; Calabrese, Andrea; Quer, Stefano; SONZA REORDA, Matteo; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto
A guided debugger-based fault injection methodology for assessing functional test programs
2023 Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Di Gruttola Giardino, Nicola; Appello, Davide; Bertani, Claudia; Tancorre, Vincenzo
A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to supply Effective Electrical Stress
2023 Angione, F.; Appello, D.; Bernardi, P.; Bertani, C.; Gallo, G.; Littardi, S.; Pollaccia, G.; Ruggeri, W.; Reorda, M. S.; Tancorre, V.; Ugioli, R.
| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| Test, Reliability and Functional Safety trends for Automotive System-on-Chip / Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; de Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Huch, M.; Kilian, T; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022). (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium). | 1-gen-2022 | F. AngioneN. BellarminoP. BernardiR. CantoroC. de SioT. FoscaleG. GavariniA. RuospoE. SanchezG. SquilleroM. Sonza ReordaL. Sterpone + | 01_ETS_special_session_ABSTRACT.pdf |
| A novel Pattern Selection Algorithm to reduce the Test Cost of large Automotive Systems-on-Chip / Iaria, Giusy; Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; SONZA REORDA, Matteo; Davide, Appello; Giuseppe, Garozzo; Vincenzo, Tancorre. - (2022). (Intervento presentato al convegno Latin American Test Symposium tenutosi a Montevideo (Uruguay) nel 05-08 September 2022) [10.1109/LATS57337.2022.9936975]. | 1-gen-2022 | Iaria GiusyFrancesco AngionePaolo BernardiMatteo Sonza Reorda + | A_novel_Pattern_Selection_Algorithm_to_reduce_the_Test_Cost_of_large_Automotive_Systems-on-Chip.pdf |
| An Optimized Burn-In Stress Flow targeting Interconnections logic to Embedded Memories in Automotive Systems-on-Chip / Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; SONZA REORDA, Matteo; Appello, Davide; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto. - (2022), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno IEEE European Test Symposium tenutosi a Barcelona (Spain) nel 23-27 May 2022) [10.1109/ETS54262.2022.9810396]. | 1-gen-2022 | Francesco ANGIONEPaolo BERNARDIGabriele FILIPPONIMatteo SONZA REORDA + | An_Optimized_Burn-In_Stress_Flow_targeting_Interconnections_logic_to_Embedded_Memories_in_Automotive_Systems-on-Chip.pdf |
| Online scheduling of concurrent Memory BISTs execution at Real-Time Operating-System level / Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Filipponi, Gabriele; Tempesta, Claudia; SONZA REORDA, Matteo; Appello, Davide; Ugioli, Roberto; Tancorre, Vincenzo. - (2022). (Intervento presentato al convegno International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI and Nanotechnology Systems tenutosi a Austin (USA) nel 19-21 October 2022) [10.1109/DFT56152.2022.9962338]. | 1-gen-2022 | Francesco AngionePaolo BernardiGabriele FilipponiClaudia TempestaMatteo Sonza Reorda + | Online_scheduling_of_concurrent_Memory_BISTs_execution_at_Real-Time_Operating-System_level.pdf |
| Test, Reliability and Functional Safety Trends for Automotive System-on-Chip / Angione, F.; Appello, D.; Aribido, J.; Athavale, J.; Bellarmino, N.; Bernardi, P.; Cantoro, R.; De Sio, C.; Foscale, T.; Gavarini, G.; Guerrero, J.; Huch, M.; Iaria, G.; Kilian, T.; Mariani, R.; Martone, R.; Ruospo, A.; Sanchez, E.; Schlichtmann, U.; Squillero, G.; Sonza Reorda, M.; Sterpone, L.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - (2022), pp. 1-10. (Intervento presentato al convegno 2022 IEEE European Test Symposium (ETS) tenutosi a Barcelona (Spain) nel 23-27 May 2022) [10.1109/ETS54262.2022.9810388]. | 1-gen-2022 | F. AngioneN. BellarminoP. BernardiR. CantoroC. De SioT. FoscaleG. GavariniJ. GuerreroG. IariaR. MarianiA. RuospoG. SquilleroM. Sonza ReordaL. Sterpone + | 2022_ETS_SpecialSession.pdf; Test_Reliability_and_Functional_Safety_Trends_for_Automotive_System-on-Chip.pdf |
| An innovative Strategy to Quickly Grade Functional Test Programs / Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Calabrese, Andrea; Cardone, Lorenzo; Niccoletti, Alessandro; Piumatti, Davide; Quer, Stefano; Appello, Davide; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto. - (2022), pp. 355-364. (Intervento presentato al convegno International Test Conference tenutosi a Anaheim, CA (USA) nel 23-30 September 2022) [10.1109/ITC50671.2022.00044]. | 1-gen-2022 | Francesco AngionePaolo BernardiAndrea CalabreseLorenzo CardoneDavide PiumattiStefano Quer + | An_innovative_Strategy_to_Quickly_Grade_Functional_Test_Programs.pdf |
| On the integration and hardening of Software Test Libraries in Real-Time Operating Systems / Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Cantoro, Riccardo; Di Gruttola Giardino, Nicola; Piumatti, Davide; Reorda, Matteo Sonza; Appello, Davide; Tancorre, Vincenzo. - (2023), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno Latin American Test Symposium tenutosi a Veracruz (Mexico) nel 21-24 March 2023) [10.1109/LATS58125.2023.10154492]. | 1-gen-2023 | Angione, FrancescoBernardi, PaoloCantoro, RiccardoDi Gruttola Giardino, NicolaPiumatti, DavideReorda, Matteo Sonza + | On_the_integration_and_hardening_of_Software_Test_Libraries_in_Real-Time_Operating_Systems.pdf |
| A Toolchain to Quantify Burn-In Stress Effectiveness on large Automotive System-on-Chips / Angione, Francesco; Appello, Davide; Bernardi, Paolo; Calabrese, Andrea; Quer, Stefano; SONZA REORDA, Matteo; Tancorre, Vincenzo; Ugioli, Roberto. - In: IEEE ACCESS. - ISSN 2169-3536. - 11:(2023), pp. 105655-105676. [10.1109/ACCESS.2023.3316511] | 1-gen-2023 | Francesco AngionePaolo BernardiAndrea CalabreseStefano QuerMatteo Sonza Reorda + | A_Toolchain_to_Quantify_Burn-In_Stress_Effectiveness_on_Large_Automotive_System-on-Chips.pdf |
| A guided debugger-based fault injection methodology for assessing functional test programs / Angione, Francesco; Bernardi, Paolo; Di Gruttola Giardino, Nicola; Appello, Davide; Bertani, Claudia; Tancorre, Vincenzo. - (2023), pp. 1-7. (Intervento presentato al convegno VLSI Test Symposium tenutosi a San Diego (USA) nel 24-26 April 2023) [10.1109/VTS56346.2023.10140099]. | 1-gen-2023 | Angione, FrancescoBernardi, PaoloDi Gruttola Giardino, Nicola + | A_guided_debugger-based_fault_injection_methodology_for_assessing_functional_test_programs.pdf |
| A Low-Cost Burn-In Tester Architecture to supply Effective Electrical Stress / Angione, F.; Appello, D.; Bernardi, P.; Bertani, C.; Gallo, G.; Littardi, S.; Pollaccia, G.; Ruggeri, W.; Reorda, M. S.; Tancorre, V.; Ugioli, R.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON COMPUTERS. - ISSN 0018-9340. - (2023), pp. 1447-1459. [10.1109/TC.2022.3199994] | 1-gen-2023 | Angione F.Bernardi P.Littardi S.Ruggeri W.Reorda M. S. + | A_Low-Cost_Burn-In_Tester_Architecture_to_Supply_Effective_Electrical_Stress.pdf |