PALMIERI, ANDREA

PALMIERI, ANDREA  

Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni  

041545  

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Interfacial Charge Dynamics in Metal-Oxide–Semiconductor Structures: The Effect of Deep Traps and Acceptor Levels in GaN / Sharabani, Y.; Palmieri, Andrea; Kyrtsos, Alexandros; Matsubara, Masahiko; Bellotti, Enrico. - In: PHYSICAL REVIEW APPLIED. - ISSN 2331-7019. - STAMPA. - 13:1(2020), p. 014007. [10.1103/PhysRevApplied.13.014007] 1-gen-2020 Palmieri, Andrea + 2020Sharabani_PRAP.pdf
Reducing inter-pixel crosstalk in HgCdTe detectors / Vallone, M.; Goano, M.; Bertazzi, F.; Ghione, G.; Palmieri, A.; Hanna, S.; Eich, D.; Figgemeier, H.. - In: OPTICAL AND QUANTUM ELECTRONICS. - ISSN 0306-8919. - STAMPA. - 52:1(2020), p. 25. [10.1007/s11082-019-2137-9] 1-gen-2020 Vallone M.Goano M.Bertazzi F.Ghione G.Palmieri A. + 2020Vallone_OQE.pdf20191126_Vallone_OQE.pdf
Heterostructure modeling considerations for Ge-on-Si waveguide photodetectors / Palmieri, Andrea; Vallone, Marco; Calciati, Marco; Tibaldi, Alberto; Bertazzi, Francesco; Ghione, Giovanni; Goano, Michele. - In: OPTICAL AND QUANTUM ELECTRONICS. - ISSN 0306-8919. - STAMPA. - 50:2(2018), p. 71. [10.1007/s11082-018-1338-y] 1-gen-2018 Palmieri, AndreaVallone, MarcoCalciati, MarcoTibaldi, AlbertoBertazzi, FrancescoGhione, GiovanniGoano, Michele -
Non-Monochromatic 3D Optical Simulation of HgCdTe Focal Plane Arrays / Vallone, Marco; Palmieri, Andrea; Calciati, Marco; Bertazzi, Francesco; Cappelluti, Federica; Ghione, Giovanni; Goano, Michele; Bahl, Mayank; Heller, Evan; Scarmozzino, Robert; Hanna, Stefan; Eich, Detlef; Figgemeier, Heinrich. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC MATERIALS. - ISSN 0361-5235. - STAMPA. - 47:10(2018), pp. 5742-5751. [10.1007/s11664-018-6424-1] 1-gen-2018 Vallone, MarcoPalmieri, AndreaCalciati, MarcoBertazzi, FrancescoCappelluti, FedericaGhione, GiovanniGoano, Michele + -