Archivio Istituzionale della RicercaHUSSAIN, IZHAR
HUSSAIN, IZHAR
Dipartimento di Elettronica e Telecomunicazioni
037089
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| Citazione | Data di pubblicazione | Autori | File |
|---|---|---|---|
| A Unified Approach for Performance Degradation Analysis from Transistor to Gate Level / Hussain, Izhar; Vacca, Marco; Riente, Fabrizio. - In: INTERNATIONAL JOURNAL OF ELECTRICAL AND COMPUTER ENGINEERING. - ISSN 2088-8708. - ELETTRONICO. - 8:1(2018), pp. 412-420. [10.11591/ijece.v8i1.pp412-420] | 1-gen-2018 | Izhar HussainMarco VaccaFabrizio Riente | document.pdf |
| Understanding CMOS Technology through TAMTAMS Web / Riente, Fabrizio; Hussain, Izhar; Vacca, Marco; RUO ROCH, Massimo. - In: IEEE TRANSACTIONS ON EMERGING TOPICS IN COMPUTING. - ISSN 2168-6750. - ELETTRONICO. - PP:99(2016), pp. 1-12. [10.1109/TETC.2015.2488899] | 1-gen-2016 | RIENTE, FABRIZIOHUSSAIN, IZHARVACCA, MARCORUO ROCH, Massimo | 07294651.pdf |