RESTIFO, MARCO

RESTIFO, MARCO  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

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Reliability and Testing of Complex Safety-Critical Automotive SoC / Restifo, Marco. - (2020 Feb 20), pp. 1-140. 20-feb-2020 RESTIFO, MARCO -
A hybrid in-field self-test technique for SoCs / Carbonara, S.; Bernardi, P.; Restifo, M.. - (2019), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 14th IEEE International Conference on Design and Technology of Integrated Systems In Nanoscale Era, DTIS 2019 tenutosi a grc nel 2019) [10.1109/DTIS.2019.8735075]. 1-gen-2019 Carbonara S.Bernardi P.Restifo M. 08735075.pdf
Effective Screening of Automotive SoCs by Combining Burn-In and System Level Test / COSTA DE ALMEIDA, ANTONIO FELIPE; Bernardi, P.; Calabrese, D.; Restifo, M.; Reorda, M. S.; Appello, D.; Pollaccia, G.; Tancorre, V.; Ugioli, R.; Zoppi, G.. - STAMPA. - (2019). (Intervento presentato al convegno 22nd International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems, DDECS 2019 tenutosi a rou nel 2019) [10.1109/DDECS.2019.8724644]. 1-gen-2019 COSTA DE ALMEIDA, ANTONIO FELIPEBernardi P.Restifo M.Reorda M. S. + -
Self-testing of multicore processors / Skitsas, Michael A.; Restifo, Marco; Michael, Maria K.; Nicopoulos, Chrysostomos; Bernardi, Paolo; Ernesto, Sanchez - In: Many-Core Computing: Hardware and Software / Al-Hashimi B.M., Merrett G.V.. - STAMPA. - [s.l] : IET, 2019. - ISBN 9781785615825. - pp. 367-394 [10.1049/PBPC022E_ch15] 1-gen-2019 Marco RestifoPaolo BernardiErnesto Sanchez + -
About on-line functionally untestable fault identification in microprocessor cores for safety-critical applications / Cantoro, R.; Firrincieli, Andrea; Piumatti, D.; Restifo, M.; Sanchez, E.; Reorda, M. Sonza. - STAMPA. - 2018-:(2018), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 19th IEEE Latin-American Test Symposium, LATS 2018 tenutosi a bra nel 2018) [10.1109/LATW.2018.8349679]. 1-gen-2018 Cantoro, R.FIRRINCIELI, ANDREAPiumatti, D.Restifo, M.Sanchez, E.Reorda, M. Sonza lats18 preprint.pdf
Adaptive Management Techniques for Optimized Burn-In of Safety-Critical SoC / Appello, Davide; Bernardi, Paolo; Bugeja, Conrad; Cantoro, Riccardo; Pollaccia, Giorgio; Restifo, Marco; Venini, Federico. - In: JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING. - ISSN 0923-8174. - STAMPA. - 34:(2018), pp. 43-52. [10.1007/s10836-018-5705-1] 1-gen-2018 Paolo BernardiRiccardo CantoroMarco RestifoFederico Venini + -
An Evolutionary Algorithm Approach to Stress Program Generation During Burn-In / Appello, Davide; Bernardi, Paolo; Cantoro, Riccardo; Colazzo, Andrea; Motta, Alessandro; Pagani, Alberto; Pollaccia, Giorgio; Restifo, Marco; Ernesto, Sanchez; Venini, Federico. - In: JOURNAL OF LOW POWER ELECTRONICS. - ISSN 1546-1998. - STAMPA. - (2018), pp. 86-98. [10.1166/jolpe.2018.1542] 1-gen-2018 Paolo BernardiRiccardo CantoroMarco RestifoErnesto Sanchezand Federico Venini + -
An Optimized Test During Burn-In for Automotive SoC / Appello, Davide; Bernardi, Paolo; Bugeja, Conrad; Cantoro, Riccardo; Pollaccia, Giorgio; Restifo, Marco; Ernesto, Sanchez; Venini, Federico. - In: IEEE DESIGN & TEST. - ISSN 2168-2356. - STAMPA. - (2018), pp. 46-53. [10.1109/MDAT.2018.2799807] 1-gen-2018 Paolo BernardiRiccardo CantoroMarco RestifoErnesto SanchezFederico Venini + PREPRINT_DT_DTSI-2017-04-0096.R2.pdf08272388.pdf
A Comprehensive Methodology for Stress Procedures Evaluation and Comparison for Burn-In of Automotive SoC / Bernardi, Paolo; Appello, Davide; Giacopelli, Giampaolo; Motta, Alessandro; Pagani, Alberto; Pollaccia, Giorgio; Rabbi, Christian; Restifo, Marco; Ruberg, Priit; Sanchez, Ernesto; Villa, Claudio Maria; Venini, Federico. - (2017). (Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe Conference and Exhibition (DATE2017)). 1-gen-2017 BERNARDI, PAOLORESTIFO, MARCOSanchez, ErnestoVENINI, FEDERICO + -
A DMA and CACHE-based stress schema for burn-in of automotive microcontroller / Bernardi, Paolo; Cantoro, Riccardo; Gianotto, L.; Restifo, Marco; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; Venini, Federico; Appello, D.. - STAMPA. - (2017), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 2017 18th IEEE Latin American Test Symposium (LATS) tenutosi a Bogota (CO) nel 13-15 March 2017) [10.1109/LATW.2017.7906767]. 1-gen-2017 BERNARDI, PAOLOCANTORO, RICCARDORESTIFO, MARCOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOVENINI, FEDERICO + -
An Evolutionary Approach to Hardware Encryption and Trojan-Horse Mitigation / Marcelli, Andrea; Restifo, Marco; Sanchez, Ernesto; Squillero, Giovanni. - ELETTRONICO. - (2017). (Intervento presentato al convegno Design, Automation and Test in Europe, DATE 2017 tenutosi a Laussane, Switzerland nel 27-31 March 2017) [10.23919/DATE.2017.7927244]. 1-gen-2017 MARCELLI, ANDREARESTIFO, MARCOSanchez, ErnestoSQUILLERO, GIOVANNI -
Defeating Hardware Trojan through Software Obfuscation / Marcelli, Andrea; Restifo, Marco; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; Squillero, Giovanni. - ELETTRONICO. - (2017). (Intervento presentato al convegno RESCUE 2017 - Workshop on Reliability, Security and Quality tenutosi a Limassol, Cyprus nel May 25-26, 2017). 1-gen-2017 MARCELLI, ANDREARESTIFO, MARCOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSQUILLERO, GIOVANNI -
On the in-field test of embedded memories / Bernardi, Paolo; Restifo, Marco; SANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTO; SONZA REORDA, Matteo. - (2017). (Intervento presentato al convegno 23rd IEEE International Symposium on On-Line Testing and Robust System Design). 1-gen-2017 BERNARDI, PAOLORESTIFO, MARCOSANCHEZ SANCHEZ, EDGAR ERNESTOSONZA REORDA, MATTEO -
On-Line Software-based Self-Test for ECC of Embedded RAM Memories / Restifo, Marco; Bernardi, Paolo; DE LUCA, Sergio; Sansonetti, Alessandro. - ELETTRONICO. - (2017), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno Symposium on Defect and Fault TOlerance in VLSI and Nanotechnology Systems tenutosi a Cambridge (UK) nel 2017). 1-gen-2017 RESTIFO, MARCOBERNARDI, PAOLO + -
Scan chain encryption for the test, diagnosis and debug of secure circuits / Da Silva, Mathieu; Flottes, Marie Lise; DI NATALE, Giorgio; Rouzeyre, Bruno; Prinetto, Paolo Ernesto; Restifo, Marco. - ELETTRONICO. - (2017), pp. 1-6. (Intervento presentato al convegno 22nd IEEE European Test Symposium, ETS 2017 tenutosi a cyp nel 2017) [10.1109/ETS.2017.7968248]. 1-gen-2017 DI NATALE, GIORGIOPRINETTO, Paolo ErnestoRESTIFO, MARCO + -