SCALTRITO, LUCIANO

SCALTRITO, LUCIANO  

Dipartimento Scienza Applicata e Tecnologia  

004046  

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Micromachined silicon based cooling loop designed for general purpose devices / Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Civera, Pierluigi; Scaltrito, Luciano; Pirri, Candido; Perotto, Vera. - 1:(2001), pp. 36-36. (Intervento presentato al convegno 2nd EUSPEN (European Society for Precision Engineering and Nanotechnology) International Conference tenutosi a Turin nel May 2001). 1-gen-2001 COCUZZA, MATTEOGIORGIS, FABRIZIOCIVERA, PIERLUIGISCALTRITO, LUCIANOPIRRI, CandidoPEROTTO, Vera -
Defect characterization of 4H-SiC wafers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Sgorlon, C.; Richieri, G.; Merlin, L.; Ferrero, Sergio. - In: JOURNAL OF PHYSICS. CONDENSED MATTER. - ISSN 0953-8984. - 14:48(2002), pp. 13397-13402. [10.1088/0953-8984/14/48/394] 1-gen-2002 SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELEGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIO + -
Recent progresses in the growth, processing and characterization of silicon carbide / Mandracci, Pietro; Fanchini, G; Ferrero, Sergio; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano - In: Recent Research Development in Applied Physics / .. - KERALA : Transworld Research Network, 2003. - ISBN 9788178950853. - pp. 427-450 1-gen-2003 MANDRACCI, PietroFERRERO, SERGIORICCIARDI, CarloSCALTRITO, LUCIANO + -
Defect influence on the electrical properties of 4H-SiC Schottky diodes / Scaltrito, Luciano; Celasco, Edvige; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Giorgis, F; Pirri, Candido; Perrone, D; Meotto, U; Mandracci, Pietro; Richieri, G; Merlin, L; Cavallini, A; Castaldini, A; Rossi, M.. - (2003). (Intervento presentato al convegno International Conference on Silicon Carbide and Related Materials ICSCRM tenutosi a Lyon nel 5-10 October 2003). 1-gen-2003 SCALTRITO, LUCIANOCELASCO, EDVIGEPORRO, SAMUELEFERRERO, SERGIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, Pietro + -
Structural and electrical characterization of epitaxial 4H–SiC layers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, Corrado; G., Richieri; L., Merlin; A., Castaldini; A., Cavallini; L., Polenta. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 102:(2003), pp. 298-303. [10.1016/S0921-5107(02)00726-2] 1-gen-2003 SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELECOCUZZA, MATTEOGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIOSGORLON, CORRADO + -
Structural and electrical characterization of epitaxial 4H-SiC layers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Polenta, L.. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 102:(2003), pp. 298-303. 1-gen-2003 SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELEFERRERO, SERGIOGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, Carlo + -
Low temperature growth of SiO2 on SiC by plasma enhanced chemical vapor deposition for power device applications / Mandracci, Pietro; Ferrero, Sergio; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Richieri, G; Sgorlon, C.. - In: THIN SOLID FILMS. - ISSN 0040-6090. - 427:(2003), pp. 279-283. 1-gen-2003 MANDRACCI, PietroFERRERO, SERGIORICCIARDI, CarloSCALTRITO, LUCIANO + -
Correlation between Defects and Electrical Properties of 4H-SiC Based Schottky Diodes / Scaltrito, Luciano; Porro, Samuele; Giorgis, Fabrizio; Mandracci, Pietro; Cocuzza, Matteo; Pirri, Candido; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Castaldini, A.. - 433-436:(2003), pp. 455-458. 1-gen-2003 SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELEGIORGIS, FABRIZIOMANDRACCI, PietroCOCUZZA, MATTEOPIRRI, CandidoRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIO + -
Surface analysis and defect characterization of 4H–SiC wafers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Fanchini, Giovanni; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, Corrado; G., Richieri; L., Merlin. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 12:(2003), pp. 1224-1226. [10.1016/S0925-9635(02)00310-2] 1-gen-2003 SCALTRITO, LUCIANOFANCHINI, GiovanniPORRO, SAMUELECOCUZZA, MATTEOGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIOSGORLON, CORRADO + -
Surface analysis and defect characterization of 4H-SiC wafers for power electronic device applications / Scaltrito, Luciano; Fanchini, G.; Porro, Samuele; Cocuzza, Matteo; Giorgis, Fabrizio; Tresso, Elena Maria; Pirri, Candido; Mandracci, Pietro; Ricciardi, Carlo; Ferrero, Sergio; Sgorlon, C.; Richieri, G.; Merlin, L.. - In: DIAMOND AND RELATED MATERIALS. - ISSN 0925-9635. - 12:(2003), pp. 1224-1226. 1-gen-2003 SCALTRITO, LUCIANOPORRO, SAMUELECOCUZZA, MATTEOGIORGIS, FABRIZIOTRESSO, Elena MariaPIRRI, CandidoMANDRACCI, PietroRICCIARDI, CarloFERRERO, SERGIO + -
Plasma-assisted SiC oxidation for power device fabrication / Mandracci, Pietro; Ferrero, Sergio; Porro, Samuele; Ricciardi, Carlo; G., Richieri; Scaltrito, Luciano. - In: APPLIED SURFACE SCIENCE. - ISSN 0169-4332. - 238:(2004), pp. 336-340. 1-gen-2004 MANDRACCI, PietroFERRERO, SERGIOPORRO, SAMUELERICCIARDI, CarloSCALTRITO, LUCIANO + -
Structural characterisation of nickel silicide performed by two-dimensional X-ray microdiffraction / P., Colombi; E., Bontempi; U. M., Meotto; Porro, Samuele; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Ferrero, Sergio; G., Richieri; L., Merlin; L. E., Depero. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 114:(2004), pp. 236-240. [10.1016/j.mseb.2004.07.071] 1-gen-2004 PORRO, SAMUELERICCIARDI, CarloSCALTRITO, LUCIANOFERRERO, SERGIO + -
Structural characterisation of nickel suicide performed by two-dimensional X-ray microdiffraction / Colombi, P; Bontempi, E; Meotto, U. M.; Porro, Samuele; Ricciardi, Carlo; Scaltrito, Luciano; Ferrero, Sergio; Richieri, G; Merlin, L; Depero, L.. - In: MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B-SOLID STATE MATERIALS FOR ADVANCED TECHNOLOGY. - ISSN 0921-5107. - 114-115:(2004), pp. 236-240. 1-gen-2004 PORRO, SAMUELERICCIARDI, CarloSCALTRITO, LUCIANOFERRERO, SERGIO + -
Defect influence on the electrical properties of 4H-SiC Schottky diodes / Scaltrito, Luciano; Celasco, Edvige; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Giorgis, Fabrizio; Pirri, Candido; Perrone, Denis; Meotto, U; Mandracci, Pietro; Richieri, G; Merlin, L; Cavallini, A; Castaldini, A; Rossi, M.. - 457-460:2(2004), pp. 1081-1084. 1-gen-2004 SCALTRITO, LUCIANOCELASCO, EDVIGEPORRO, SAMUELEFERRERO, SERGIOGIORGIS, FABRIZIOPIRRI, CandidoPERRONE, DENISMANDRACCI, Pietro + -
Silicon Micro Machining Technologies and Advanced Materials (Porous Silicon and PEEK-WC) for Realization of Micro-PEM Fuel Cells / Tresso, Elena Maria; L., Borello; Drioli, Enrico; Gianolio, Giuseppe; Guastella, SALVATORE ANTONIO; D., Perrone; Quaglio, Marzia; Rossi, Andrea Mario; Rosso, Ilaria; Scaltrito, Luciano; Trotta, Francesco. - 885:(2005). (Intervento presentato al convegno MRS - Materials Research Society tenutosi a Boston, US nel 27 novembre - 1 dicembre 2005). 1-gen-2005 TRESSO, Elena MariaDRIOLI, ENRICOGIANOLIO, GiuseppeGUASTELLA, SALVATORE ANTONIOQUAGLIO, MarziaROSSI, Andrea MarioROSSO, IlariaSCALTRITO, LUCIANOTROTTA, Francesco + -
Growth, morphological and structural characterization of silicon carbide epilayers for power electronic devices applications / Pirri, Candido; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Celasco, Edvige; Guastella, SALVATORE ANTONIO; Scaltrito, Luciano; R., Yakimova; M., Syvjrvi; R. R., Ciechonski; S., DE ANGELIS; D., Crippa. - In: CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY. - ISSN 0232-1300. - 40:(2005), pp. 964-966. 1-gen-2005 PIRRI, CandidoPORRO, SAMUELEFERRERO, SERGIOCELASCO, EDVIGEGUASTELLA, SALVATORE ANTONIOSCALTRITO, LUCIANO + -
Phase Formation at Rapid Thermal Annealing of Nickel Contacts on C – Face n – Type 4H – SiC / Ferrero, Sergio; A., Albonico; U. M., Meotto; G., Rombol; Porro, Samuele; Giorgis, Fabrizio; Perrone, D.; Scaltrito, Luciano; E., Bontempi; L. E., Depero; G., Richieri; L., Merlin. - 483-485:(2005), p. 733. 1-gen-2005 FERRERO, SERGIOPORRO, SAMUELEGIORGIS, FABRIZIOSCALTRITO, LUCIANO + -
Growth, morphological and structural characterization of silicon carbide epilayers for power electronic devices applications / Pirri, Candido; Porro, Samuele; Ferrero, Sergio; Celasco, Edvige; Guastella, SALVATORE ANTONIO; Scaltrito, Luciano; R., Yakimova; M., Syväjärvi; R. R., Ciechonski; S., De Angelis; D., Crippa. - In: CRYSTAL RESEARCH AND TECHNOLOGY. - ISSN 0232-1300. - 40:(2005), pp. 964-966. [10.1002/crat.200410468] 1-gen-2005 PIRRI, CandidoPORRO, SAMUELEFERRERO, SERGIOCELASCO, EDVIGEGUASTELLA, SALVATORE ANTONIOSCALTRITO, LUCIANO + -
Design, Fabrication and Characterization of 1.5 mΩcm2, 800 V 4H-SiC n-Type Schottky Barrier Diodes / Furno, Mauro Stefano; Bonani, Fabrizio; Ghione, Giovanni; Ferrero, Sergio; Porro, Samuele; Mandracci, Pietro; Scaltrito, Luciano; Perrone, Denis; Richieri, G.; Merlin, Luigi. - ELETTRONICO. - 483-485:(2005), pp. 941-944. (Intervento presentato al convegno 5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, ECRSCRM2004 tenutosi a Bologna, Italy nel 31 August - 4 September 2004) [10.4028/www.scientific.net/MSF.483-485.941]. 1-gen-2005 FURNO, Mauro StefanoBONANI, FABRIZIOGHIONE, GIOVANNIFERRERO, SERGIOPORRO, SAMUELEMANDRACCI, PietroSCALTRITO, LUCIANOPERRONE, DENIS + Design, Fabrication, and Characterization of.pdf
Silicon micro machining technologies and advanced materials (porous silicon and PEEK-WC) for realization of micro-PEM fuel cells / Tresso, Elena Maria; Borello, L; Drioli, E; Gianolio, G; Guastella, S; Perrone, D; Quaglio, M; Rossi, A. M.; Rosso, I; Scaltrito, Luciano; Trotta, F.. - 885:(2006), pp. 15-20. 1-gen-2006 TRESSO, Elena MariaQuaglio MSCALTRITO, LUCIANO + -