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BENSO, ALFREDO

BENSO, ALFREDO  

Dipartimento di Automatica e Informatica  

002904  

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Il ruolo delle tecniche di fault injection nell’analisi dell’affidabilità dei sistemi / Benso, Alfredo; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - In: AEI AUTOMAZIONE ENERGIA INFORMAZIONE. - ISSN 1122-2824. - STAMPA. - 83:10(1996), pp. 63-69. 1-gen-1996 BENSO, AlfredoCORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
Role of fault injection techniques in system dependability analysis / Benso, Alfredo; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - In: AEI AUTOMAZIONE ENERGIA INFORMAZIONE. - ISSN 1122-2824. - 83:(1996), pp. 63-69. 1-gen-1996 BENSO, AlfredoCORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
Fault Behavior Observation of a Microprocessor System through a VHDL Simulation-Based Fault Injection Experiment / Amendola, A.; Benso, Alfredo; Corno, Fulvio; Impagliazzo, L.; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (1996), pp. 536-541. (Intervento presentato al convegno Design Automation Conference, 1996, with EURO-VHDL '96 and Exhibition, Proceedings EURO-DAC '96, European tenutosi a Geneva, CH nel 16 - 20 Sep 1996) [10.1109/EURDAC.1996.558255]. 1-gen-1996 BENSO, AlfredoCORNO, FulvioPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
Reti Logiche (Esercizi commentati e risolti) / Benso, Alfredo; Corno, Fulvio; Prinetto, Paolo Ernesto. - STAMPA. - (1997). 1-gen-1997 BENSO, AlfredoCORNO, FulvioPRINETTO, Paolo Ernesto -
A new approach to build a low-level Malicious Fault List starting from High-level description and Alternative Graphs / Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; R., Ubar. - (1997), pp. 560-565. (Intervento presentato al convegno EDTC '97 Proceedings of the 1997 European conference on Design and Test). 1-gen-1997 BENSO, AlfredoPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
Exploiting high-level descriptions for circuits fault tolerance assessment / Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; J., Raik; R., Ubar. - (1997), pp. 212-216. (Intervento presentato al convegno Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 1997. Proceedings., 1997 IEEE International Symposium on tenutosi a Paris, F nel 20-22 Oct 1997) [10.1109/DFTVS.1997.628327]. 1-gen-1997 BENSO, AlfredoPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo + -
Information technology in the assessment of skeletal maturity / Aicardi, G.; Aicardi, M.; Benso, Alfredo; Benso, L.. - In: ACTA MEDICA AUXOLOGICA. - ISSN 0001-6004. - STAMPA. - 30:1(1998), pp. 121-127. 1-gen-1998 BENSO, Alfredo + -
A Hybrid Fault Injection Methodology for Real Time Systems / Benso, Alfredo; Civera, Pierluigi; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo; Ferro, ANTONIO VITO; Macchiarulo, Luca; Violante, Massimo; Prinetto, Paolo Ernesto; R., Ubar; J., Raik. - STAMPA. - (1998), pp. 74-75. (Intervento presentato al convegno FTCS-28: 28th Annual International Symposium on Fault-Tolerant Computing tenutosi a Munich (Germany) nel Jun 23-25, 1998). 1-gen-1998 BENSO, AlfredoCIVERA, PIERLUIGIREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, MatteoFERRO, ANTONIO VITOMACCHIARULO, LucaVIOLANTE, MASSIMOPRINETTO, Paolo Ernesto + -
Fault-list collapsing for fault-injection experiments / Benso, Alfredo; Rebaudengo, Maurizio; L., Impagliazzo; P., Marmo. - (1998), pp. 383-388. (Intervento presentato al convegno Reliability and Maintainability Symposium, 1998. Proceedings., Annual tenutosi a Anaheim, CA, USA nel 19-22 Jan 1998) [10.1109/RAMS.1998.653808]. 1-gen-1998 BENSO, AlfredoREBAUDENGO, Maurizio + -
A Fault Injection Environment for Microprocessor-based Board / Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - STAMPA. - (1998), pp. 768-773. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference (ITC) tenutosi a Washington (DC), USA nel 18-23 Oct. 1998) [10.1109/TEST.1998.743259]. 1-gen-1998 BENSO, AlfredoPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo 1998-ITC-FaultInjection-uP.pdf
An integrated HW and SW fault injection environment for real-time systems / Benso, Alfredo; Civera, Pierluigi; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (1998), pp. 117-122. (Intervento presentato al convegno Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, 1998. Proceedings., 1998 IEEE International Symposium on tenutosi a Austin, TX, USA nel 2-4 Nov 1998) [10.1109/DFTVS.1998.732158]. 1-gen-1998 BENSO, AlfredoCIVERA, PIERLUIGIREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
EXFI: a low cost Fault Injection System for embedded Microprocessor-based Boards / Benso, Alfredo; Prinetto, Paolo Ernesto; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - In: ACM TRANSACTIONS ON DESIGN AUTOMATION OF ELECTRONIC SYSTEMS. - ISSN 1084-4309. - STAMPA. - 5:4(1998), pp. 626-634. [10.1145/296333.296351] 1-gen-1998 BENSO, AlfredoPRINETTO, Paolo ErnestoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo 1998-TODAES-EXFI-AuthorVersion.pdf
A low cost programmable board for speeding-upfault-injection in Microprocessor based systems / Benso, Alfredo; Civera, Pierluigi; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - (1999). (Intervento presentato al convegno RAMS'99: ANNUAL RELIABILITY AND MAINTAINABILITY SYMPOSIUM). 1-gen-1999 BENSO, AlfredoCIVERA, PIERLUIGIREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
FlexFi: A Flexible Fault Injection Environment for Microprocessor-Based Systems / Benso, Alfredo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - 1698:(1999), pp. 323-335. (Intervento presentato al convegno Computer Safety, Reliability and Security 18th International Conference, SAFECOMP’99 tenutosi a Toulouse (FRA) nel September 27–29, 1999) [10.1007/3-540-48249-0_28]. 1-gen-1999 BENSO, AlfredoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo -
Testing Embedded Memories in Telecommunication Systems / Barbagallo, S.; Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Lobetti Bodoni, M.; Prinetto, Paolo Ernesto. - In: IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE. - ISSN 0163-6804. - STAMPA. - 37 , Issue: 6:(1999), pp. 84-89. [10.1109/35.769279] 1-gen-1999 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + 1999-IEEEComm-Test-Memory.pdf
Testing an MCM for high-energy physics experiments: a case study / Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto; Giovannetti, S.; Mariani, R.; Motto, S.. - STAMPA. - (1999), pp. 38-46. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference tenutosi a Atlantic City, NJ nel 27-30 September 1999). 1-gen-1999 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + -
HD-BIST: a hierarchical framework for BIST scheduling and diagnosis in SOCs / Benso, Alfredo; Cataldo, S.; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto; Zorian, Y.. - STAMPA. - (1999), pp. 1038-1044. (Intervento presentato al convegno IEEE International Test Conference tenutosi a Atlantic City, NJ nel 27-30 September 1999). 1-gen-1999 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + -
Fault Injection for Embedded Microprocessor-based Systems / Benso, Alfredo; Rebaudengo, Maurizio; SONZA REORDA, Matteo. - In: JOURNAL OF UNIVERSAL COMPUTER SCIENCE. - ISSN 0948-6968. - STAMPA. - 5:10(1999), pp. 693-712. [10.3217/jucs-005-10-0693] 1-gen-1999 BENSO, AlfredoREBAUDENGO, MaurizioSONZA REORDA, Matteo 1999-JUCS-FaultInjectionMicroprocessors.pdf
On integrating a proprietary and a commercial architecture for optimal BIST performances in SoCs / Benso, Alfredo; DI CARLO, Stefano; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto; Ricciato, F.; Lobetti Bodoni, M.; Spadari, M.. - STAMPA. - (2000), pp. 539-540. (Intervento presentato al convegno IEEE International Conference on Computer Design (ICCD) tenutosi a Austin (TX), USA nel 17-20 Sept. 2000) [10.1109/ICCD.2000.878335]. 1-gen-2000 BENSO, AlfredoDI CARLO, STEFANOCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + 2000-ICCD-HD2BIST-AuthorVersion.pdf; 2000-ICCD-HD2BIST.pdf
'BOND': An Interposition Agents Based Fault Injector for Windows NT / Baldini, A.; Benso, Alfredo; Chiusano, SILVIA ANNA; Prinetto, Paolo Ernesto. - (2000), pp. 387-395. (Intervento presentato al convegno IEEE International Symposium on Defect and Fault-Tolerance in VLSI Systems nel 25-27 October 2000). 1-gen-2000 BENSO, AlfredoCHIUSANO, SILVIA ANNAPRINETTO, Paolo Ernesto + -